2025-11-13
Porometer的MP²技術（多級壓力步進平衡法）——現已正式獲得專利——將精密孔隙測量提升至全新高度。
該技術專為POROLUX™ Revo系列設計，MP²技術引入智能壓力控制功能，確保每個數據點都在時機和精確壓力下采集——從而實現當今精準、可重復性最高的孔徑測量。
獲專利的MP²技術
MP²代表多級壓力步進平衡法。這項創新技術能確保測量過程中壓力平穩提升，并加速達到流量與壓力穩定狀態。
為何為MP²技術申請專利
我們為MP²技術申請專利，既是為了保護這項真正推動孔隙測量科學發展的突破性成果，也是為了慶祝這一創舉。
通過重新定義壓力控制，MP²技術確保了無懈可擊的階梯穩定性，并在整個過程運行中持續保持高速。
這不僅是技術升級——更是數據精度與儀器可靠性的里程碑。
Aptco Technologies總經理Kees van der Kamp強調此項新專利的重要性：
“我們的MP²技術獲得官方專利認證，是對團隊自主研發所達成的深層科學理解與工程精度的肯定。這彰顯了Porometer對待創新的嚴謹態度——我們儀器的每個細節都植根于專業知識、豐富經驗以及對精準性的不懈追求。”
MP²技術的功能
MP²技術通過智能方式全程管理測量過程中的壓力建立與穩定階段：
在各選定測量點前精準緩釋壓力
保持每個壓力階躍的持續穩定與高度一致性
僅在氣流與壓力達到完全穩態時采集有效數據點
注：圖示為采用POROLUX™ Revo測量的聚合物平板膜濕曲線、干曲線及半干曲線 b）擬合孔徑分布圖
這項技術確保測試結果具有一致性、可靠性，為材料研究構建堅實的認知基礎。
為您帶來的價值
內置MP²技術的POROLUX™ Revo系列使用戶享有：
• 更高測量精度與結果復現性
• 1mbar級精準控制的壓力遞增區間
• 更平滑的濕曲線與更精細的孔徑分布圖，同時實現最小化壓力波動
• 針對無紡布、紡織品及徑跡蝕刻膜等材料實現更快更穩定的測量周期
結論
獲得專利的MP²技術奠定了Porometer在孔隙測量領域創新的地位。
通過將智能過程控制與數十年專業經驗相結合，Porometer持續將精準性與可靠性提升至全新高度。
注：以上內容編譯自Porometer，圖片等內容版權歸屬于Porometer
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